你好,欢迎访问达普芯片交易网!|  电话:010-82614113

达普芯片交易网 > 新闻资讯 > 科技成果

力科发布全新的多通道串行数据眼图、抖动、串扰分析工具SDAIII-CompleteLinQ

发布时间:2012-08-01阅读:813

    Chestnut Ridge, NY, July 2, 2012 – 纽约Chestnut Ridge,2012年7月2日纽约时间上午8点到9点-力科公司,全球串行信号分析解决方案领导者,发布了全新的多通道串行数据眼图、抖动、串扰分析工具SDAIII-CompleteLinQ,这是一套集成串行数据眼图分析、抖动分析、串扰分析、不同通道串行数据之间对比、虚拟探测、信号完整新仿真等功能于一体的多功能分析平台。


    移动通信和云计算的发展驱动着更高数据吞吐量的需求,PCIE Gen3 / 40/100 Gbase-R多通道串行架构的出现都是为了满足这种需求,随着数据速率的提高和更多通道的同时工作,研发设计工程师必须面对由此带来的更严重的抖动和串扰问题,必须对多通道数据的眼图、抖动、串扰做深入细致的分析,找出问题的根本原因。


    力科SDAIII-CompleteLinQ提供了完整的测试方案帮助工程师对多通道数据的眼图、抖动、串扰做深入细致的分析,


    它能够同时对4个通道的串行数据的眼图、抖动、串扰做分析,对因串扰引起的垂直噪声进行分解和分析,SDAIII-CompleteLinQ提供设置参考Reference Lane的方法,多达4个通道的Lane可以和Reference Lane做对比分析,


    同时对于多通道串行数据,SDAIII-CompleteLinQ能够方便的实现串扰影响存在和不存在时的多个Lane上信号的测试结果对比,对于探头无法探测到的位置的波形测试,SDAIII-CompleteLinQ提供了虚拟探测方法来确定无法探测到的位置的波形。
 

热点排行

在线人工客服

点击这里给我发消息

点击这里给我发消息

点击这里给我发消息

010-82614113

客服在线时间周一至周五
9:00-17:30