对智能卡微控制器的分析和防御：测量CPU的电磁辐射
发布时间：2008-11-21阅读：1056
理论上能从测量智能卡微处理器的电磁辐射，以和差分功率分析相同的方式推出有关其内部处理的结论。小尺寸和小强度的磁场可用超导量子干涉器件SQUID（SuperconductingQuantum Interference Devices）测量，在技术上是极其复杂的。一般而言，此方法所不可或缺的有关半导体器件的内部结构的知识也不易得到。此外，IC可以在其顶上叠加数根线条以极其有效地抵御这种类型的攻击，即使测得磁场也无法确定究竟是那根线上的电流。
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